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ST-20掌上型方塊電阻測試儀

更新時間：2020-05-21 點擊次數(shù)：982

ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特點：

采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定

低功耗

采用單個電池供電，帶電池欠壓指示

儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm

特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

探頭帶抗靜電模塊

◆ 技術指標：

深圳市偉峰儀器儀表有限公司

地址：深圳市寶安區(qū)沙井街道步涌社區(qū)新和大道129號-177號(單號)E1306

郵箱：weifeng1718@163.com

傳真：86-0755-61605261

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